◆ 概述
KMP C7310系列紫外正性光刻膠具有高感光度、高產(chǎn)出率、高分辨率及良好的工藝寬容度。專為I線曝光優(yōu)化,可廣泛應(yīng)用于0.5μm以上分辨的集成電路制造及相關(guān)半導(dǎo)體制造領(lǐng)域。
◆ 產(chǎn)品規(guī)格
Viscosity(粘度) |
mPa.s |
9.5±1.0 |
Trace metals(痕量金屬離子) |
ppb |
Ca、Cr、Fe≤30; Cu、Ni、K、Na、Pb、Zn≤20 |
Particles(顆粒,≥0.3μm) |
cts/ml |
≤20 |
Water(水分) |
% |
≤0.5 |
◆ 參考工藝條件
Prime(預(yù)處理) |
HMDS,100℃,40s |
Soft Bake(前烘) |
90℃,60s |
Exposure(曝光) |
I-line |
Post Exposure Bake(中烘) |
115℃,60s |
Develop(顯影) |
23℃,60s,Puddle |
Hard Bake(后烘) |
110℃,60s |