一、設備型號：YHMT－AAA二、設備用途：用于單晶硅和多晶硅太陽能組件電性能參數(shù)自動測試和結果記錄。三、設備主要技術指標原理 ： 模擬光源3.1.1、光譜匹配度：范圍符合IEC60904-9光譜輻照度分布要求(AM1.5)3.1.2、總輻照強度：100mW/cm23.1.3、輻照度調節(jié)范圍：70mW/cm2～120mW/cm23.1.4、輻照不均勻度：±2%3.1.5、輻照不穩(wěn)定度：±2%3.1.6、單次輻照脈沖時間：10ms(定制20-150MS)3.1.7、具有閃光次數(shù)記數(shù)提示功能（更換歸零重置）3.1.8、氙燈使用壽命30萬次（德國）3.1.9、輻照方向：垂直向上出光3.2、測量范圍3.2.1、有效測試面積：2200mm×1200mm3.2.2、有效測試范圍：5W～450W幅面接受***大組件面積功率3.2.3、測量電壓：0mV～200V（分辨率1mV）3.2.4、測量電流：0m A～20A（分辨率1mA）3.2.5、環(huán)境溫度：15℃～35℃3.3、測量精度3.3.1、測量結果不一致性：±0.5%3.3.2、測量結果誤差：±2%

3.4、測量方式：四線測量3.5、測量參數(shù)：Isc、Voc、Pmax、Vm、Im、FF、EFF、Temp、Rs、Rsh3.6、測量間隔時間：5秒3.7、數(shù)據(jù)采集：I-V曲線和P-V曲線含8000個數(shù)據(jù)采集點3.8、測試條件校正：3.8.1、輻照度自動補償3.8.2、溫度自動補償3.9、溫度測量3.9.1、溫度補償和顯示3.9.2、內置非接觸紅外測溫3.10、測試結果3.10.1、測試結果語音報數(shù)和語音提示3.10.2、顯示測試時間和圖形化參數(shù)（I-V特性曲線）3.11、測試報告3.11.1、當前工作界面顯示并可記錄I-V特性曲線3.11.2、可將所有組件的主要測試參數(shù)保存到硬盤的指定文件3.11.3、指定的文件可以自主命名3.12、數(shù)據(jù)匯總與打印3.12.1、根據(jù)設定時間段或隨時進行數(shù)據(jù)匯總3.12.2、以Excel格式打?。ò↖-V特性曲線累計輸出）3.13、專用軟件3.13.1、溫度補償系數(shù)輸入3.13.2、日期名稱行列數(shù)輸入3.13.3、序列號起始設置自動遞增3.13.4、不良品參數(shù)范圍設置3.13.5、參數(shù)集中控制

3.13.5、參數(shù)集中控制3.14、工作時間：設備可連續(xù)工作24小時以上四、設備整機配置4.1、 測試主機（含電子負載）：一臺4.2、 光源（含光學系統(tǒng)）：一套4.3、 計算機：一臺4.4、 高速數(shù)據(jù)采集A/D板卡：一塊4.5、 專用測量軟件：一套4.6、 標準電池（用于輻照度校正補償和均勻性測量）光強補償