實(shí)驗(yàn)附件及常規(guī)測(cè)試步驟:
光學(xué)隔振平臺(tái)、一臺(tái)計(jì)算機(jī)(標(biāo)準(zhǔn)VGA接口和USB接口)、吉時(shí)利2450數(shù)字源表(含軟件)等。
測(cè)試時(shí)連接探針臺(tái)和數(shù)字源表,探針接被測(cè)物體電極,待連接導(dǎo)通后打開源表軟件,選好參數(shù)即可出該觸點(diǎn)的I-V性能曲線。
應(yīng)用領(lǐng)域:
太陽能電池及電池片測(cè)試、半導(dǎo)體材料光電檢測(cè)、功率器件測(cè)試、MEMS測(cè)試、PCB測(cè)試、液晶面板測(cè)試、測(cè)量表面電阻率測(cè)試、精密儀器生產(chǎn)檢測(cè)、航空航天實(shí)驗(yàn)等。
譜量光電可根據(jù)客戶實(shí)際應(yīng)用需求,定制配套探針臺(tái)系統(tǒng),以達(dá)更好的測(cè)試效果及更高的性價(jià)比,具體信息可聯(lián)系詳詢。
|